詳細(xì)摘要： 用于測(cè)試光伏組件，主要是單晶硅組件，地面用晶體硅光伏組件，地面用薄膜光伏組件等一系列的光伏組件進(jìn)行紫外光加速耐候試驗(yàn)可以再現(xiàn)陽(yáng)光所產(chǎn)生的破壞。